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O artigo “Electronically Programmable Test Points for On-Chip Analog/Digital Measurements” foi apresentado no congresso do IEEE – International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), realizado em maio, em Pequim. Selecionado entre os melhores do evento, uma versão estendida do artigo irá para a publicação especial Transactions on Circuits and Systems I (TCAS-I), também da IEEE.  Autores, Murillo Franco Neto, Jairo Güiza, Erasmo Chiappetta, Sergio Rueda, Hamilton Luis e José Bertuzzo.

O Simpósio Internacional sobre Circuitos e Sistemas (ISCAS) é o principal fórum mundial de pesquisadores de liderança nos campos da teoria, projeto e implementação de circuitos e sistemas. O ISCAS 2013, foi patrocinado pela Sociedade de Circuitos e Sistemas do IEEE e aconteceu em Pequim, China, de 19 a 23 de maio de 2013.

O artigo “Electronically Programmable Test Points for On-Chip Analog/Digital Measurements” apresenta uma solução flexível para a realização de medições de sinais internos de um chip, o que reduz os custos do sistema global e os riscos dos testes em laboratório. “O trabalho ganhou destaque por apresentar uma solução inovadora, reduzindo riscos e custos do projeto. Isso mostra que o Brasil, em especial o Instituto Eldorado, começa a aparecer na vanguarda da área de projeto de circuitos integrados, sendo reconhecido mundialmente pela qualidade desses trabalhos.”, conta Murillo Franco Neto, líder do grupo Analógico/Mixed-Signal, um dos braços da Design House (DH) Eldorado.

Após a apresentação do paper no Simpósio, os autores do trabalho receberam um convite para estender o artigo e publicá-lo na revista “Transactions on Circuits and Systems I (TCAS-I)”, também organizada pelo IEEE, uma publicação especial da instituição, que não recebe aplicações, contando apenas com artigos selecionados pelos referees da organização.